FM-Nanoview 6800AFM
一、主要功能特點
硬件系統
1.光機電一體化設計，外形結構簡單；2.掃描探頭和樣品臺集成一體，抗干擾能力強；
3.精密激光檢測及探針定位裝置，光斑調節簡單，操作方便；
4.采用樣品趨近探針方式，使針尖垂直于樣品掃描；
5.伺服馬達手動或自動脈沖控制，驅動樣品垂直接近探針，實現掃描區域精確定位；
6.高精度大范圍的樣品移動裝置，可自由移動感興趣的樣品掃描區域；
7.高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器，根據不同精度和掃描范圍要求選擇；
8.帶光學定位的CCD觀測系統，實時觀測與定位探針掃描樣品區域；
9.采用伺服馬達控制CCD自動對焦功能；
10.模塊化的電子控制系統設計，便于電路的持續改進與維護；
11.集成多種掃描工作模式控制電路，配合軟件系統使用。
12.帶溫度、濕度顯示。
13.彈簧懸掛式防震方式，簡單實用，抗干擾能力強
14.帶光學定位功能
軟件系統
1.可觀測樣品掃描時的表面形貌像、振幅像和相位像；
2.具備接觸、輕敲兩種模式,可選配（相位、摩擦力、磁力或靜電力工作模式）；
3.可自由選擇圖像采樣點為256×256或512×512；
4.多通道圖像同步采集顯示，實時查看剖面圖；
5.多種曲線力-間距(F-Z)、頻率-RMS（f-RMS）、RMS-間隙（RMS-Z）測量功能；
6.可進行掃描區域偏移、剪切功能，任意選擇感興趣的樣品區域；
7.可任意選擇樣品起始掃描角度；
8.激光光斑檢測系統的實時調整功能；
9.針尖共振峰自動和手動搜索功能；
10.可任意定義掃描圖像的色板功能；
11.支持樣品傾斜線平均、偏置實時校正功能；
12.支持掃描器靈敏度校正和電子學控制器自動校正；
13.支持樣品圖片離線分析與處理功能。
二、主要技術指標
1.工作模式：接觸、輕敲、可擴展相位、摩擦力、磁力或靜電力
2.樣品尺寸：Φ≤90mm，H≤20mm
3.最大掃描范圍：橫向50um，縱向5um
4.掃描分辨率：橫向0.2nm，縱向0.05nm
5.掃描速率：0.6Hz~4.34Hz
6.掃描角度：任意
7.樣品移動范圍：0～50mm
8.馬達趨近脈沖寬度：10±2ms
9.光學放大倍數：10X
10.光學分辨率：1um
11.圖像采樣點：256×256，512×512
12.掃描控制：XY采用18-bit D/A，Z采用16-bit D/A
13.數據采樣：14-bit A/D、雙16-bit A/D多路同步采樣
14.反饋方式：DSP數字反饋
15.反饋采樣速率：64.0KHz
16.計算機接口：USB2.0
17.運行環境：運行于Windows98/2000/XP/7/8操作系統
原子力檢測實例：
鏈接：https://pan.baidu.com/s/12kJrY7ye476qgsq8pIb6rA
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